中国石油大学（华东）2013材料分析测试技术考博大纲
考试科目名称：材料分析测试技术 考试科目代码： 3023
一、考试要求：
要求学生全面系统地掌握材料现代检测技术(X射线衍射技术及在材料中的应用、电子显微分析技术及在材料中的应用)的基本概念和基本原理，并能够对基本原理灵活运用，具有较强的材料检测分析能力和解决问题能力。
二、考试内容：
1 X射线物理基础
1.1 X射线的本质和X射线谱
1.2 X射线与物质的相互作用
2 X射线衍射原理
2.1 倒易点阵
2.2 X射线衍射方向
2.3 X射线衍射强度
3 多晶体X射线衍射分析方法
3.1 粉末照相法
3.3 X射线衍射仪
4 X射线衍射分析方法的应用
4.1 点阵常数的精确测定
4.2 物相的定性分析和定量分析
4.3 宏观应力的测定
5 电子光学基础
5.1 电子波与电磁透镜
5.2 电磁透镜的像差与分辨本领
5.3 电磁透镜的景深和焦长
6 透射电子显微镜
6.1 透射电子显微镜结构
6.2 透射电镜样品制备
6.3 电子衍射
6.4 电子显微图像
6.5 透射电镜在材料分析中的应用
7 扫描电子显微镜
7.1 电子束与固体样品的相互作用
7.2 扫描电镜的构造和工作原理
7.3 扫描电镜的主要性能
7.4 表面形貌衬度原理及其应用
7.5 原子衬度原理及其应用
8 电子探针显微分析
8.1 电子探针仪的结构与工作原理
8.2 波长分散谱议
8.3 能量分散谱议
8.4 电子探针仪的分析方法及应用
9 表面分析技术
9.1 离子探针
9.2 原子探针
9.3 俄歇电子能谱仪
9.4 低能电子衍射
三、试卷结构：
1 考试时间：180分钟，满分：100分
2 题型结构
1) 基本概念题(约20分)
2) 基本简答题(约40分)
3) 综合分析题(约40分)
四、参考书目
1 周玉，武高辉. 材料分析测试技术——材料X射线衍射与电子显微分析，哈尔滨工业大学出版社，2000年
2 常铁军, 祁欣. 材料近代分析测试方法，哈尔滨工业大学出版社，2003年